A ZEISS O-INSPECT duo két technológiát kínál egy gépben: a nagyméretű munkadarabok, például nyomtatott áramköri lapok, üzemanyagcellák vagy akkumulátorok metrológiai és nagy felbontású, vágás nélküli vizsgálata egyaránt elvégezhető. A 3D mérési technológia és a mikroszkópos vizsgálat kombinációja növeli a hatékonyságot és helyet takarít meg a minőségügyi laboratóriumokban.


A ZEISS O-INSPECT duo 8/6/3 méretben kapható

• 2 az 1-ben: Mikroszkóp és mérőberendezés egy gépben
• Gyors és precíz 3D mérések - optikai és tapintásos
• Nagy felbontású optika kiegészítő ZEISS ZEN core vizsgálati szoftverrel

aZEISS első multitechnológiai rendszere A ZEISS O-INSPECT duo mérőmikroszkópként két alapvető alkalmazási területet fed le a minőségbiztosításban: Nagy vagy sok kis alkatrész pontos mérése és nagy felbontású vizsgálata. A készüléket kifejezetten olyan alkalmazásokhoz is kifejlesztették, amelyek a háromdimenziós mérés és ellenőrzés kombinációját igénylik - beleértve a szegmentálást, a foltozást és a képfeldolgozást a színes képen. A minőségügyi laboratóriumoknak egy mérőeszköz és egy mikroszkóp helyett már csak egy gépre van szükségük, ami helytakarékos és rendszerköltséget takarít meg. Tudja meg, milyen további előnyöket kínál a multifunkciós készülék az adott területek számára.




mESSTECHNIK Nagy pontosságú mérések - tapintásos és optikai Nagy pontosság a lapos és érzékeny munkadarabokhoz A ZEISS O-INSPECT duo egy többszenzoros mérőeszköz, amely a ZEISS VAST XXT tapintásos letapogató érzékelővel párosított nagy felbontású optikájával nyűgöz le. A tapintásérzékelő gyors és pontos 3D méréseket tesz lehetővé azáltal, hogy egyetlen mozdulattal nagyszámú mérési pontot rögzít.

a ZEISS O-INSPECT duo segítségével az érzékeny alkatrészek érintés nélkül mérhetők - a ZEISS VAST tapintás (ZVP) segítségével kiváló pontossággal és a mérési idő jelentős csökkentésével.



A nagy felbontásnak köszönhetően nagyon nagy munkatávolság mellett ez nem csak lapos munkadarabok vagy minták esetén lehetséges. Felületvizsgálat és mérés egy gépen Ma CMM, holnap mikroszkóp Sok munkadarabnál a méret-, alak- és helyzetvizsgálat mellett felületi vizsgálatra is szükség van. Ahol korábban két külön készüléket használtak a méréshez és a vizsgálathoz, a ZEISS O-INSPECT duo most 2 az 1-ben megoldást kínál. A készülék intuitív kezelésének és a nagy felbontású, 5 MP-es Discovery.V12 scout 160 c színes kameraérzékelőnek és a 12x zoom objektívnek köszönhetően a vizsgálati feladatok mostantól a mérőeszközön is leképezhetők. A ZEISS CALYPSO-val való szokásos használat mellett a készülék a ZEISS ZEN központi szoftverrel mikroszkópos feladatokra is használható.